無圖案ITO玻璃襯底：科研實驗的理想選擇

在科研實驗的眾多材料中，無圖案ITO玻璃襯底憑借其優(yōu)異的性能，成為了多種研究領域的關鍵材料。ITO玻璃基板（無圖案） 晶圓片

這款無圖案ITO玻璃襯底在尺寸方面提供了多種選擇，滿足不同實驗場景的需求，具體包括20毫米×15毫米、25毫米×25毫米以及25毫米×75毫米（顯微鏡載玻片規(guī)格）。其厚度統(tǒng)一為1.1毫米，采用經過拋光的鈉鈣浮法玻璃作為基底材料。

該襯底的核心優(yōu)勢在于其涂層特性。它表面覆蓋著一層100納米厚的氧化的銦錫氧化物（ITO）。在電阻性能上，其標稱電阻為20Ω.□?1，而通過Ossila四點探針系統(tǒng)實際測量的電阻值在14-16Ω.□?1之間，展現出穩(wěn)定的導電性能。

表面粗糙度對于許多實驗至關重要，這款襯底在這方面表現出色。經原子力顯微鏡（AFM）測量，玻璃基底的粗糙度為1納米RMS，ITO涂層的粗糙度為1.8納米RMS，平整的表面為實驗提供了良好的基礎。

從透光性能來看，該ITO襯底在不同波長下都有著較好的表現。在波長350納米至750納米范圍內，其透光率保持在較高水平，能夠滿足光譜學等實驗對透光性的要求。

在光學性能上，該 ITO 襯底展現了透明導電材料的典型優(yōu)勢，在可見光及近紫外區(qū)域具有良好的透光率，能夠滿足光譜學研究對材料透光性的要求。這種 “透明 + 導電" 的雙重特性，使其成為光伏（PV）和有機發(fā)光二極管（OLED）等光電子器件研究的核心材料。ITO玻璃基板（無圖案） 晶圓片

這款無圖案ITO玻璃襯底的應用范圍十分廣泛，在多種實驗技術中都發(fā)揮著重要作用，包括掃描隧道顯微鏡（STM）、導電原子力顯微鏡（conductive AFM）等 microscopy 技術，光譜學研究以及電聚合等實驗。